SRM 675 X射線粉末衍射 (XRD)是作為粉末衍射儀的外部或內部低2θ(大d間距)校準標準而制備的。該材料為合成螢石云母，由于壓制樣品具有較高的擇優取向，且只有O00反射光強，是最適合于衍射的材料。云母磨過一個75微米(200目)的篩子.
X射線粉末衍射 (XRD)SRM 675 共28個樣品，混合硅和鎢內部標準。用微型計算機控制的高角度計測量。對每個樣品，用剖面擬合法確定了18個內標和11個螢石反射的峰位，并對熱膨脹的影響進行了校正，然后利用內標線校正了儀器和物理像差(例外分數)的螢石反射。
X射線粉末衍射 (XRD)的產生：
X射線管由陽極靶材和陰極燈絲組成。燈絲中發出一定能量的電子，電子在高壓電場的作用下轟擊陽極靶材的表面，將陽極靶原子的第K層電子電離出來，處于高能激發態，其它外層的電子躍入，降低能量，發出X射線。X射線是一種波長很短的電磁波，波長范圍是0.05~0.25nm，具有很強的穿透力。常用的陽極靶材有Cu、Cr、Co、Mo、W、Fe、Ni等。
X射線粉末衍射 (XRD)一般由連續X射線（白色X射線）和特征X射線譜組成。
連續X射線: 在X射線管中高能電子轟擊陽極靶材時，產生不同的負加速度，因而發射各種波長的連續電磁波。由于電子的能量高，發射的電磁波是波長較短的X射線。電子與陽極靶面碰撞，產生很高的負加速度而發射連續X射線譜的現象，也稱軔致輻射。
特征X射線譜：高速電子撞擊材料后，材料內層電子形成空位，外層電子向空位躍遷會輻射x射線。不同材料x射線波長不同，所以叫特征x射線。特征X射線譜又稱標識射線譜，具有特定的波長，且波長取決于陽極靶元素的原子序數。只有當管壓超過某一特定值時才能產生特征X射線。特征X射線譜是疊加在連續X射線譜上的。
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陳經理（銷售）
